Xarion 独特的基于激光的技术，确保超声检测半导体元件时无需耦合液。这种传感器技术，被集成到一个单机的桌面工具中，该桌面工具具有 2 种操作模式：高速非接触式图像模式，超快单发评估模式 (*高达1000 个元件/秒)。这 2 种模式均允许对分层、脱粘、其它内部缺陷进行无损检测。
Xarion的技术提高了失效分析的效率和生产中的可靠性。

特点

超声检测半导体元件的紧凑、高度通用的桌面工具
独特的非接触式传感技术、无需耦合介质
高速图像模式，高达10k 成像点/秒
单发检测模式，高达1000 元件/秒

应用

分层、其它内部缺陷检测的通用桌面工具，适合实验室、研究机构、工厂