XARION的PM Bundle是非接触式的声学过程监控工具,适用于广泛的声学过程探测分析,辅助您的各种工业过程监控。
产品特点
真正的非接触,无惧背景噪声,紧凑的传感器尺寸,实时过程监控,识别裂纹、缺陷、异常
应用范围
工业激光材料加工质量监控:激光焊接,超快激光微加工,激光结构化,激光熔覆LMD,3D打印,刀具磨损监控
典型案例
一种新的分析技术利用了我们的光学麦克风极高的时间分辨率,能够检测金属板焊接过程中匙孔的不稳定性。在持续时间短至2ms的情况下,amplitude-independent算法通过声发射来识别这种不稳定性 – 这可带来孔隙、熔接不良。
激光熔覆LMD工艺领域,确保完美的零件质量至关重要。然而,阻碍这一目标的最普遍的缺陷之一是裂纹的出现,这可能会严重影响最终部件的机械强度。这就是XARION光学麦克风的用武之地。我们可以准确地捕捉LMD过程中产生的声发射,并实时检测裂纹。更值得注意的是,在非接触式测量装置中,能够通过三角测量精确定位这些裂纹。
激光钻孔,以~百kHz重频超短脉冲激光来实现,它们的空气声发射,在相同频率下强度高,因此可用光学麦克风进行测量。通过评估这些音调分量的声能、高次谐波,可识别不同材料。
欢迎交流、XARION的光学麦克风如何将您的过程监控提升到非凡的高度。
主要参数
Eta250 Ultra 光学麦克风 | 带宽10Hz ~ 1MHz |
光纤耦合探头尺寸(Φ 5mm) |
模拟电压输出,50Ω及高阻抗匹配设计 |
可定制光缆长度(标准 5m) |
具备传感定位的传感器安装系统 |
HF-MES 数据采集和分析系统 | 基于FPGA的实时全频谱显示,可达30000谱/秒 |
小时级的数据流,可达 4MHz/24 bit,6TB存储 |
工业通讯总线和原始数据输出 |
Onboard数据分析,如能量计算、模式识别 |
可靠的设计 |