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GSI Helmholtz中心利用XARION光学麦克风监测应用中大辐射剂量的影响
GSI Helmholtz中心利用XARION光学麦克风监测应用中大辐射剂量的影响
来源:
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作者:
莱速科技
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发布时间:
2023-03-01
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位于德国达姆施塔特的重离子研究GSI亥姆霍兹中心最近安装了两个XARION FiberOS传感器,以评估监测应用中大辐射剂量的影响。
2014-2-13
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