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高价值陶瓷工业的质量控制-Xarion LEA非接触式测量
来源: | 作者:莱速科技 | 发布时间: 2023-03-01 | 160 次浏览 | 分享到:


最近一期《陶瓷工业》杂志上的这篇文章,介绍了 XARION 光学麦克风作为检测陶瓷工件微小裂纹的可靠方法的使用情况。这种设置利用声发射进行非接触测量,而没有结构性声的通常缺点。


文章链接 2019-2-19

Ceramic Industry Article (547.45 kB)




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