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  • CT440/CT440-PDL - 无源元器件测试仪 1240-1680nm
  • CT440/CT440-PDL - 无源元器件测试仪 1240-1680nm

    EXFO CT440/CT440-PDL - 无源元器件测试仪,紧凑小巧、用于快速、精准地鉴定无源光器件(复用器/解复用器、滤波器、分光器等)和模块(ROADM、WSS)。覆盖1240-1680nm的频谱范围,可在整个电信波段上进行测量。借助PDL选件,可同时测量插损和偏振相关损耗。


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产品详情

EXFO CT440/CT440-PDL - 无源元器件测试仪,紧凑小巧、用于快速、精准地鉴定无源光器件(复用器/解复用器、滤波器、分光器等)和模块(ROADM、WSS)。覆盖1240-1680nm的频谱范围,可在整个电信波段上进行测量。借助PDL选件,可同时测量插损和偏振相关损耗。




紧凑的测试仪,用于快速、精准地鉴定无源光器件(复用器/解复用器、滤波器、分光器等)和模块(ROADM、WSS)。覆盖从1240到1680 nm的频谱范围,可在整个电信波段上进行测量。借助PDL选件,可同时测量插损和偏振相关损耗。


快速测量插损

CT400将高速电子设备和光干涉测量技术结合起来。四个集成的检测器使您能够同时测量四个通道,单次激光器扫描的动态范围为65 dB。此外,在以10 nm/s至100 nm/s之间的任何速度进行扫描时波长精准度都可以达到±5 pm,因此不需要在测量速度和精准度间进行取舍。

精准测量插损

CT440集成了一个监测光电探测器,在扫描期间对来自激光光源的任何功率波动进行补偿。可以不考虑激光器扫描速度,在1和250 pm之间选择采样分辨率。除了±5 pm的波长精准度外,内置的波长计可减轻对可调谐激光光源(TLS)的要求,从而在不影响测量性能的情况下降低系统成本。CT440在与TLS和PC连接时,可提供执行精准测量所需的各种功能。


支持全波段

CT440(SMF型号)可在1240至1680 nm的范围内工作,且完全兼容EXFO的T200S/T500S和T100S-HP连续可调谐激光器。在使用多台TLS时,CT440可自动在激光器间切换,实现无缝的全波段测量。它与DUT间只需进行一次连接,这意味着不需要外部开关。


PM选件
可在整个CT440仪表的生命周期内选购保偏(PM)光纤。这样,就可以测量对偏振很敏感的器件(如MZ调制器)的插损,此时在TLS输入和输出端口间需要一条保偏光纤。有两个型号,使用PM13型光纤覆盖O波段(1260 nm至1360 nm),或使用PM15型光纤覆盖SCL波段(1440 nm至1640 nm)。


其它功能


激光器线外差检测(SMF型号,TLS输入端口数≥2)可将被测信号(SUT)连接到TLS第二个输入端口上。在激光器扫描整个波长范围的过程中,CT440会在穿过SUT波长时生成并检测干涉图样。因此,CT440可用作多波长计。
使用已知的参考激光器或光纤耦合的气体腔重新校准系统 对于绝对波长参考测试至关重要的实验,可将CT440与波长参考测试配件一起使用。波长参考配件包含氟化氢或氰化氢参考气体腔,分别在O波段和C波段显示吸收线,提供非常好的绝对波长精准度。
控制软件内置分析功能 提供直观全面的GUI,便于激光器管理、参考测试、扫描配置和滤波器分析。
完全的远程控制 借助DLL和CT440随带的示例软件代码,可随时将器件测试整合到复杂的远程控制程序中。
外形小巧 CT440有全新的机架式版本(高度为1U),是空间有限的实验室应用的理想之选。