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Xarion 半导体元件无损检测系统|桌面工作站

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<p><span style="font-size: 14px;">XARION 独特的激光技术使得半导体元件的超声波无损检测（NDT）无需接触、水或耦合剂。<br/>XARION 的半导体检测设备可作为独立的桌面工具，适用于失效实验室和研发实验室的半导体测试，也可以集成至大规模生产线中，实现 100% 的质量控制。</span></p><br/>
LEAsys-NDT扫查系统

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<p><span style="font-size: 14px;">XARION的LEAsys 是一款一体化NDT扫查系统、超声检测系统，特别适用于致力于复合材料、金属和胶接点无损检测的研发实验室或科研机构。这一集成的 NDT 扫描解决方案将创新的 LEA 技术与高分辨率 x-y 扫描台及实时数据分析软件结合，实现了高分辨率、高速度的非接触式超声检测！</span></p><br/>

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