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  • XUV 极紫外滤光片

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    德国HP-Spectroscopy XUV 长寿命金属极紫外滤光片，氧化抑制工艺带来 2‑10 倍提升的透过率，具备优异平面度、表面粗糙度与机械刚度，散热性能优异。提供整片式及泵浦‑探测专用分段薄膜滤光片，有效阻挡激光基波与低次谐波杂散光，适配光束线与光谱仪系统。


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产品详情

德国HP-Spectroscopy XUV 长寿命金属极紫外滤光片，氧化抑制工艺带来 2‑10 倍提升的透过率，具备优异平面度、表面粗糙度与机械刚度，散热性能优异。提供整片式及泵浦‑探测专用分段薄膜滤光片，有效阻挡激光基波与低次谐波杂散光，适配光束线与光谱仪系统。


XUV filters 极紫外滤光片

特点

  •     通过抑制氧化实现业界顶尖透过率

  •     优异的平面度与表面粗糙度

  •     更高的机械刚度

  •     优化散热性能，保障长期工作稳定性

  •     可提供共线泵浦‑探测实验用分段薄膜滤光片

  •     长寿命光谱滤光片


HP‑Spectroscopy 提供适配光谱仪与光束线Beamlines使用的金属型光谱滤光片。该系列XUV 极紫外滤光片相较传统产品具备显著更高的透过率；薄膜涂层可抑制滤光片两面生成吸收极紫外光的氧化层。同时更高的机械刚度，降低实验室操作难度。


分段式滤光片

针对采用分束镜的共线泵浦‑探测实验，提供分段薄膜滤光片。专用薄膜支撑结构实现更优散热，是高强激光实验装置的关键部件；该分段薄膜可实现长达数月的长期稳定工作。

滤光片透过率


滤光片透过率曲线。XUV极紫外滤光片，可筛选出目标工作光谱区间，抑制来自激光基波与低次谐波的杂散光。HP‑Spectroscopy 提供完整规格滤光片，包含整片式、分段式结构。欢迎联系我们沟通实际应用需求📞13545051195。


实测结果

铝基极紫外滤光片透过率。HP 100 nm 厚铝滤光片（黑色曲线）与传统铝滤光片（蓝色曲线）的实测与仿真透过率对比。得益于氧化抑制工艺，透过率提升 2‑10 倍。

XUV极紫外滤光片表面质量
XUV极紫外滤光片三维表面形貌测试图

(a) HP XUV极紫外滤光片；(b) 传统剥离工艺制备滤光片