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  • CD光纤色散测试系统

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    各类单模光纤色散及色散补偿测量，微分相移技术进行色散直接测量，可以在不预设色散模型的条件下，在任意单一光学波长处，直接对任何类型单模光纤及色散补偿等特种光纤进行色散测量。


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产品详情

各类单模光纤色散及色散补偿测量，微分相移技术进行色散直接测量，可以在不预设色散模型的条件下，在任意单一光学波长处，直接对任何类型单模光纤及色散补偿等特种光纤进行色散测量。



测试项目：各类单模光纤色散及色散补偿测量
测试标准：TIA FOTP-175/113, IEC60793. ITU-T G650
色散测量：微分相移技术进行色散直接测量，可以在不预设色散模型的条件下，在任意单一光学波长处，直接对任何类型单模光纤及色散补偿等特种光纤进行色散测量。


色散测量系统指标：

用可溯源NPL标准光纤验收

色散不确定性: ±0.05ps
零色散波长不确定性: ±0.2nm
零色散斜率不确定性: ±1.5%
色散重复性（ps/nm•km）: 0.003
零色散波长重复性: 0.002nm
零色散斜率重复性: 0.1% (典型0.01%)
长度重复性：1mm
波长单色性带宽：<4nm(典型2-4nm)
波长最小步长：0.001nm
波长范围（常规）：O+C+L 波段
动态范围：>40dB (@LED峰值)


测试系统结构及软件环境：测试系统由一个标准机柜及一台PC组成，软件环境为Windows 操作系统 , USB 驱动的图形化界面(中英文可切换)