
RayVen‑S 飞秒振荡器:平均功率 1 W,重复频率 50‑70 MHz,脉冲宽度 120 fs,工作波长 2090 nm‑2120 nm。
RayVen‑L 飞秒放大器:面向高能应用场景,平均功率 10 W,最高单脉冲能量 1 mJ,脉冲宽度 750 fs。
RayVen‑S 飞秒振荡器:平均功率 1 W,重复频率 50‑70 MHz,脉冲宽度 120 fs,工作波长 2090 nm‑2120 nm。
RayVen‑L 飞秒放大器:面向高能应用场景,平均功率 10 W,最高单脉冲能量 1 mJ,脉冲宽度 750 fs。
| 德国 RayVen Laser GmbH | RayVen 成立初衷,是打通学术前沿成果与工业落地应用之间的壁垒。作为波鸿鲁尔大学光子与超快激光科研团队孵化的科创企业,我们积淀了多年超快激光研发技术经验。 我们秉持核心使命:将严谨的学术科研成果转化为工业化成熟解决方案,为行业专业人士及工业领域,提供顶尖水准的超快激光器,打造兼具极致性能与稳定可靠性的高端激光设备。 我们致力于让自研激光器成为多场景通用核心工具,依托材料加工、环境监测、前沿科研领域的技术创新,赋能行业变革。我们坚信,2 微米激光技术将重塑行业应用边界,在微芯片制造等众多前沿领域突破技术局限、开拓全新可能。 |
RayVen 系列 2μm飞秒激光器 | RayVen 提供工业级 2.1 μm(短波红外 SWIR)超快激光器。产品包含飞秒 / 皮秒脉冲版本,整机结构紧凑,兼具优异稳定性、低噪声性能以及高峰值功率。 RayVen‑S 飞秒振荡器:平均功率 1 W,重复频率 50‑70 MHz,脉冲宽度 120 fs,工作波长 2090 nm‑2120 nm。 RayVen‑L 飞秒放大器:面向高能应用场景,平均功率 10 W,最高单脉冲能量 1 mJ,脉冲宽度 750 fs。
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应用概况 | RayVen 将 2 微米激光带给工业与科研用户。 2 μm 激光器为材料加工开辟全新路径。举例来说:电子行业基础材料硅,在 2 μm 波段附近呈透明特性,激光可穿透材料并在其内部实现加工。与之相反,聚合物在 2 μm 附近存在吸收峰,可实现高效的表面加工。 除此之外,2 μm 激光会被水强烈吸收,能够用于泌尿外科手术、软组织外科等精密医疗操作,其穿透深度很浅。同时,对比 1 μm 激光器,2 μm 激光人眼安全性更高,不易造成视网膜损伤。 除工业应用之外,2 μm 飞秒激光器在科研领域同样具备巨大潜力。可用于多种化学物质与水汽的光谱检测;也可作为驱动源,通过非线性频率变换产生极紫外(EUV)与太赫兹(THz)辐射。 RayVen 选择研发固体激光器,原因如下: 固体激光器擅长产生高峰值功率、高脉冲能量,同时拥有优异光束质量,这些特性对于超快光学研究和精密材料加工至关重要。 |
半导体加工|面向窄带隙半导体的 2.1 μm 超快激光器 | 2 μm 波段光子能量仅 0.59 eV,光束可穿透硅、锗、砷化镓、砷化铟,能够在材料内部任意深度完成聚焦。超高强度超短脉冲激发非线性效应,实现微米尺度的材料局部改性。改性区域可予以保留,用于制备光波导、实现应力调控;也可通过烧蚀 / 刻蚀去除改性层。 典型应用:光子芯片、散热微结构、芯片堆叠垂直互连;将激光聚焦至材料界面,实现半导体、异种材料焊接,达成无胶器件组装。 案例:RayVen‑L 在硅晶圆刻蚀约 20 μm 线条,实现洁净裂片,获得高质量解理断面。
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玻璃加工 | 熔融石英、硼硅玻璃等绝大多数氧化物光学玻璃,在 2 μm 波段保持透光。RayVen‑L 超快激光既可以做表面加工,也能够实现材料内部改性。 2.1 μm 光子能量较低,材料需要发生多光子吸收才能跨越带隙,改性区域被精准限定在三维微小体积内。 典型应用: 通孔钻孔、光波导直写、玻璃焊接、衍射微结构制备;激光改性区域经化学刻蚀后,可制备中空微结构。
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聚合物加工|2.1 μm 激光器聚合物微加工 | PC、PE、PMMA、有机硅、纤维素等聚合物为长分子链,分子振动模式使其在短波红外存在强吸收。RayVen 激光能量主要被材料表面吸收,穿透深度极小,实现微米级精密烧蚀(加工体素约 10 × 10 × 1 μm)。 应用场景:化学、生物、医学分析用微流控芯片微结构制备。 案例:RayVen‑L 在 PMMA 材料上加工宽度约 15 μm 沟槽。
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超连续谱产生|面向光频梳的倍频程超连续谱 | 光频梳 需要倍频程宽度光谱,完成载波包络偏移频率(fCEO)的精密锁定。传统铥 / 钬基激光光谱展宽方案受反常色散限制;集成光波导凭借可定制色散、较低脉冲输入要求,成为有效的解决路径。 Octave Photonics 与波鸿鲁尔大学,采用 RayVen‑S 搭配五氧化二钽(Ta₂O₅)波导,实现1.2‑3.2 μm 超宽光谱输出,有力推动中红外激光器技术发展。 (a) 测试装置示意图;(b) 芯片输出光谱。
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