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    Kaleo MTF测量仪结合了干涉仪与传函仪的功能，是检测镜片组、镜头和光学系统性能的完美工具，可适用于镜头设计、原型制作或生产等不同阶段。 该测量工作站提供了最完整的镜头特性：包括同轴和离轴调制传递函数（MTF），相对照度和多种波长下的波前像差。 即使在待测镜头拥有高主光线角（CRA）和大视场角（FOV）下，Kaleo MTF测量仪仍可保持高测量精度。


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产品详情

Kaleo MTF测量仪结合了干涉仪与传函仪的功能，是检测镜片组、镜头和光学系统性能的完美工具，可适用于镜头设计、原型制作或生产等不同阶段。 该测量工作站提供了最完整的镜头特性：包括同轴和离轴调制传递函数（MTF），相对照度和多种波长下的波前像差。 即使在待测镜头拥有高主光线角（CRA）和大视场角（FOV）下，Kaleo MTF测量仪仍可保持高测量精度。



KALEO套件

Spectral Range 紫外(190 - 400 nm) 可见光 - 近红外 (400 - 1100 nm) 短波红外 (900 - 1700 nm) 中红外 (3 - 5 µm) 远红外 (8 - 14 µm)


Kaleo MTF测量仪结合了干涉仪与传函仪的功能，是检测镜片组、镜头和光学系统性能的完美工具，可适用于镜头设计、原型制作或生产等不同阶段。 该测量工作站提供了最完整的镜头特性：包括同轴和离轴调制传递函数（MTF），相对照度和多种波长下的波前像差。 即使在待测镜头拥有高主光线角（CRA）和大视场角（FOV）下，Kaleo MTF测量仪仍可保持高测量精度。

特点

  • 多功能性：覆盖从紫外到红外多个波段的独立解决方案及兼容模块

  • 强大独特的波前技术：兼顾高分辨率、高动态范围及纳米级相位灵敏度

  • 操作简易：系统紧凑且便于快速对准

应用

套件选用指南

可选波前传感器型号
SID4 UV / SID4 / SID4 HR / SID4 UHR / SID4 SWIR / SID4 SWIR HR / SID4 DWIR                    


R-Cube光源可选波长 (nm)*                    

193/266/365 / 405 / 530 / 620 / 740 / 780 / 810 / 850 / 940 / 1050 /1300/ 1550 / 3.4 µm /3.9 µm /8.7 µm/9.4 µm / 10.6 µm/ 12.4 µm                    


可选光学镜头 (F值)*                    

0.6 / 0.7 / 1.2 / 2 / 3.3 / 5 / 9                    


可选扩束系统 – 出瞳有效口径(mm)*                    

8 / 15 / 30 / 60 / 100 / 130/ 200 (可定制)                    


参考标准镜

平面镜或球面镜                    



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