X 射线吸收谱成套系统

HP Spectroscopy 产品线包含一体化 X 射线吸收谱（XAS）设备，分别适配吸收边近边区间与扩展区间的测试。

近边 X 射线吸收精细结构（NEXAFS）区间紧邻元素吸收边，此处 X 射线吸收系数变化最为显著；该区间特征信号多为尖锐、高强度共振峰，由芯层电子向非束缚能级跃迁产生。NEXAFS 对氧化态等局域原子化学状态高度敏感。

扩展 X 射线吸收精细结构（EXAFS）特征振荡源于光电子的波动属性：光电子受激逸出后被近邻原子散射，散射波与初始出射光电子波发生相长干涉、相消干涉，形成周期性振荡吸收谱；通过解析振荡曲线可得到原子键长、近邻配位数等结构信息。

EXAFS and NEXAFS principle

可在 4–30 keV 能量区间完成 EXAFS 与 XANES 测试分析。整机结构紧凑，在实验室环境下即可获得媲美同步辐射光源质量的光谱。设备光谱通带范围宽，能够解析原子间距、近邻配位数等配位结构参数。

适配 200–1200 eV 波段的交钥匙式 NEXAFS 测试系统。测试数据质量可与同步辐射装置结果持平，支持在实验室内开展化学态分析。无需申请同步辐射光束线机时，即可解析元素电子组态、氧化态、键长及分子取向等信息。

德国HP-Spectroscopy X射线吸收谱系统 hiXAS

德国HP-Spectroscopy X射线吸收谱系统 proXAS

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