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  • 波前传感器SID4 SWIR HR (900-1700 nm)

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    法国Phasics 波前传感器SID4 SWIR HR (900-1700 nm) 将Phasics的专利技术与InGaAs探测器结合在一起。 凭借其超高取样分辨率（160 x 128相位取样点）和高灵敏度，它提供了从900 nm到1.7 μm波段的高精度波前测量。 SID4 SWIR HR是一种创新的解决方案，可用于检测空间光通信、测试仪表、军用夜视系统或监控设备中使用的短波红外光学系统。

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产品详情

法国Phasics 波前传感器SID4 SWIR HR (900-1700 nm) 将Phasics的专利技术与InGaAs探测器结合在一起。 凭借其超高取样分辨率（160 x 128相位取样点）和高灵敏度，它提供了从900 nm到1.7 μm波段的高精度波前测量。 SID4 SWIR HR是一种创新的解决方案，可用于检测空间光通信、测试仪表、军用夜视系统或监控设备中使用的短波红外光学系统。


波前传感器SID4 SWIR HR 

(900-1700 nm)

Spectral Range 短波红外 (900 - 1700 nm)


SID4 SWIR HR波前传感器将Phasics的专利技术与InGaAs探测器结合在一起。 凭借其超高取样分辨率（160 x 128相位取样点）和高灵敏度，它提供了从900 nm到1.7 μm波段的高精度波前测量。 SID4 SWIR HR是一种创新的解决方案，可用于检测空间光通信、测试仪表、军用夜视系统或监控设备中使用的短波红外光学系统。



特点

  • 覆盖 0.9 to 1.7 µm 短波红外波段 

  • 160 x 128 高相位分辨率

  • 高感光灵敏度 - 可适用于低功率红外光源测试

应用

  • 激光、自适应光学、等离子体检测

  • 光学元件、光学系统计量

  • 微观材料检测

关于 Phasics 

高分辨率波前传感领域的创新技术与专业实力

飞思科 Phasics 提供完整的波前测量系统及定量相位成像解决方案。Phasics 独有的专利技术四波横向剪切干涉技术（Quadriwave Lateral Shearing Interferometry，QWLSI）, 旨在突破传统 Shack-Hartmann波前传感技术的性能限制，可实现超高空间分辨率（最高达 852 × 720 个测量点）、亚纳米级高灵敏度以及高达数百微米的大动态范围。


基于 QWLSI 技术，飞思科 Phasics 波前传感器具有结构紧凑、宽光谱适用性强、操作灵活等特点。即使面对高度发散的光束，也可在无需额外中继光学系统的情况下直接进行测量，有助于简化光路配置，并提高系统集成的便利性。除波前测量本身外，飞思科 Phasics 还具备深厚的波前分析与数据处理能力。针对不同应用，配套的软件平台提供相应的分析工具，将高分辨率波前数据进一步转化为可直接用于光学性能评估、系统调校及研发分析的量化结果。围绕实际应用需求，飞思科 Phasics 持续拓展 QWLSI 技术的功能与应用场景，并可根据客户的具体测量需求，对标准系统进行配置调整与定制，为研发、生产和检测环节提供更具针对性的解决方案。


指标参数
波长范围0.9 -1.7 µm
靶面尺寸9.60 x 7.68 mm²
空间分辨率60 µm
取样分辨率160 x 128
相位分辨率2 nm RMS
绝对精度15 nm RMS
取样速率30 fps
实时处理速度> 7 fps (全分辨率下)*
接口种类以太网口
尺寸（宽x高x长）58 x 65 x 95 mm³
重量约500 g


波前传感器SID4 SWIR HR (900-1700 nm)