
SID4 kHz是一款超高速高分辨率波前传感器。凭借最高12 kHz的测量帧率、高灵敏度和单次曝光全场测量能力,可实时捕捉快速变化的波前与光强信息。其有效孔径达到23.6 × 15.3 mm²,同时具备纳米级相位分辨率,适用于高速激光诊断、自适应光学、瞬态现象分析及动态光学系统表征。
SID4 kHz是一款超高速高分辨率波前传感器。凭借最高12 kHz的测量帧率、高灵敏度和单次曝光全场测量能力,可实时捕捉快速变化的波前与光强信息。其有效孔径达到23.6 × 15.3 mm²,同时具备纳米级相位分辨率,适用于高速激光诊断、自适应光学、瞬态现象分析及动态光学系统表征。
| 高速高分辨率波前传感器 SID4 kHz (400-1100nm) | Spectral Range 可见光 - 近红外 (400 - 1100 nm) SID4 kHz是一款超高速高分辨率波前传感器。凭借最高12 kHz的测量帧率、高灵敏度和单次曝光全场测量能力,可实时捕捉快速变化的波前与光强信息。其有效孔径达到23.6 × 15.3 mm²,同时具备纳米级相位分辨率,适用于高速激光诊断、自适应光学、瞬态现象分析及动态光学系统表征。 |
| 特点 |
|
| 应用 | |
| 关于 Phasics | 高分辨率波前传感领域的创新技术与专业实力飞思科 Phasics 提供完整的波前测量系统及定量相位成像解决方案。Phasics 独有的专利技术四波横向剪切干涉技术(Quadriwave Lateral Shearing Interferometry,QWLSI), 旨在突破传统 Shack-Hartmann波前传感技术的性能限制,可实现超高空间分辨率(最高达 852 × 720 个测量点)、亚纳米级高灵敏度以及高达数百微米的大动态范围。 基于 QWLSI 技术,飞思科 Phasics 波前传感器具有结构紧凑、宽光谱适用性强、操作灵活等特点。即使面对高度发散的光束,也可在无需额外中继光学系统的情况下直接进行测量,有助于简化光路配置,并提高系统集成的便利性。除波前测量本身外,飞思科 Phasics 还具备深厚的波前分析与数据处理能力。针对不同应用,配套的软件平台提供相应的分析工具,将高分辨率波前数据进一步转化为可直接用于光学性能评估、系统调校及研发分析的量化结果。围绕实际应用需求,飞思科 Phasics 持续拓展 QWLSI 技术的功能与应用场景,并可根据客户的具体测量需求,对标准系统进行配置调整与定制,为研发、生产和检测环节提供更具针对性的解决方案。 |
| 指标 | 参数 |
| 波长范围 | 400 - 1100 nm |
| 靶面尺寸 | 23.6 x 15.3 mm² |
| 取样分辨率 | 426 x 266 |
| 空间分辨率 | 55 μm |
| 相位分辨率 | <2 nm RMS |
| 帧率 | 12 kHz |
| 尺寸(宽x高x长) | 130 x 130 x 150 mm |
| 重量 | ~1 kg |